单晶衍射仪（SC-XRD）

     送样要求
粉末样品：样品量≥50mg，样品均匀干燥，手摸无明显颗粒感。
块体样品：长宽尺寸1cm-2cm, 厚度≤2cm,表面平整光滑,需注明测试面。
液体样品：需滴到硅片上制样，需保证样品易挥发，不含有难挥发的液体状物质，若由我们制样，每个样品收取30元的制样费。
薄膜样品：长宽尺寸1cm-2cm， 薄膜厚度高于 100nm，表面平整光滑。
XRR测试：薄膜材料的粗糙度小于 5nm，块体大小长*宽≥ 1cm*1cm。
  测试说明
1.XRD测试默认采用铜靶，若您的样品为黑色金属(Fe/Mn/Cr/Ni/Co)及其合金，建议选择钴靶进行测试。
2.对于晶粒比较小或晶型比较弱的样品请选择比较慢的扫描速率。
3.对于涂层材料或薄膜材料，当薄膜厚度较薄时建议选择小角掠射的模式进行测试。
4.XRD测试时间一般由扫描的角度范围和扫描速率决定,测试时间=扫描角度范围/扫描速率,假如您的样品扫描角度范围是10-90°,扫描速率是10°/min，那么测试时间=80/10=8min。
5.对于测试时间大于15min的样品，自动生成的价格为默认的基础价格，商家收到样品后会根据测试条件按收费标准进行修改，用户也可以在下单时联系商家进行修改后付款。
6.如果样品的摇摆曲线和PHI 扫描出峰效果比较好，可做倒易空间Mapping测试，否则不建议进行该项目的测试，倒易空间Mapping自动生成的价格为默认的基础价格，具体价格以沟通后确认的为准。